金属柱劣化判定システム

AI外観検査ソフト『NuLMiL』

目視でやってた検査をAI外観検査機で省人・省力化を実現しませんか？ 専用ソフトに読み込んだ不良品データ画像の不良箇所を専用ペイントツールで塗るたびに不良パターンを学習。不良種別を自動分類するAI外観検査ソフトです。 特にプラスチック製品やゴム製品、メッキ製品や半導体ウェハの不良品検査に優れており、 プラスチックボトルの傷やゴム製品・メッキ製品の傷や欠け、変色、半導体ウェハ製品の遺物、ピンホール、スクラッチ検査可能。 また、学習データが1不良品あたり20枚程で約100％に近い精度を実現し膨大な不良品サンプルを必要としません。 ●良品・不良品のハイブリッド学習！ 　製品の良品・不良品の判別だけでなく、不良品の種別の分類が可能 　不良品が出にくいラインでは『運用を通して』種別分類をアップデート ●専用のペイントツールで不良箇所を色塗り登録するだけで不良パターンを学習 　液晶タブレットで不良部分を簡単色塗り、ボタン一つで学習開始 ●少ないデータ数で100%に近い判定精度！ 　1不良種別当たり20枚程度と少ないデータ数でほとんど100%に近い精度で不良品判定が可能 ●色塗りをベースとした「外観検査」アルゴリズムは完全自社開発で特許取得済み

赤外線カメラモジュール

テレダインフリアー社(Teledyne FLIR)は、一般・産業・軍事向けにさまざまな熱画像システムを設計・製造および販売する世界トップクラスシェアを誇るメーカーです。 小型で低価格な長波長赤外線(LWIR)カメラLeptonや、画角が選べる高解像度モデルBosonのご用意がございます。解像度はLeptonが80x60および160x120、Bosonは320x256および640x512からご選択頂けます。 (推奨アプリケーション) ・スマートフォン ・タブレット端末 ・ヘルスケア ・セキュリティ ・ゲーム機 ・ドローン ・Automotive ・FA/Factory Automotive ・ロボティクス

部品数カウンタ

部品数カウンタは、Webカメラでキャプチャした画像を解析して、ネジやナットなどの部品の数を手軽にカウントするソフトウェアです。 煩わしい設定は不要で、シンプルかつ直感的な操作で、誰でも簡単にカウントすることができます。

オンボードプログラマ『AF9201/AF9201C』

オンボードプログラマは、基板実装された各社フラッシュマイコン、SPIフラッシュに対応した高速プログラマです。 CSI、UART、I2C、JTAG、SWDによりオンボードが書込み可能です。 オンボードプログラマをUSB連結することにより多面取り基板や複数基板への複数個同時書込みが可能となります。 その他、データ書込みサービスやカスタム対応、海外対応の実績がございます。

デバイスプログラマ

デバイスプログラマは、NOR、NANDをはじめとするフラッシュメモリ、シリアルフラッシュ、フラッシュマイコン、EPROM、EEPROM、各種モジュール等半導体メモリ（ROM）にデータの書込み、消去、書換え等を行うことができます。 お客様の使用デバイスや書込み状況にあわせて、設計・開発部門から量産現場でお使いいただけるモデルを各種揃えています。 その他、データ書込みサービスやカスタム対応、海外対応の実績がございます。

輪郭マッチングセンサ『OPDシリーズ』

●インライン品質管理機能により正しい部品組付けを確認 ●ソフトウェア不要で素早く簡単にセットアップ完了 ●距離に依存せず測定し位置合わせの許容範囲が広い ●外部光に強く遮蔽や外部照明が不要 ●設定ソフトウェア画面にプロファイルを表示

EMC測定サービス

浅間テストラボは、VLAC認定、TUVラインライド任命サイトで、各国のEMC指令要求に幅広く対応しています。 10m法大型電波暗室・大型シールドルームを有し、大型機器・ハイパワー機器のEMC試験が可能です。 また大型装置など、お客様のご指定場所によるオンサイトテスト（現地でのEMC試験）が可能です。 安全認証取得支援を含めた、CEマーキング（欧州）、FCC（米国）、VCCI（日本）、KCs（韓国）、TS（台湾）、GB（中国）などに必要なEMC指令に加え低電圧指令・機械指令、SEMI規格などもワンストップで対応が可能です。 各種ノイズ障害の調査・診断・対策を幅広く行います。 あわせて豊富な経験と対策ノウハウにより、最適なノイズ対策・アドバイスを提供いたします。

X線受託検査サービス

ナノフォーカスX線検査装置を使用して専門のオペレーターによるX線検査の受託サービスを展開しています。 製品開発のスピードアップや信頼性の向上にぜひご活用下さい。 ●ナノフォーカスX線検査装置のラインアップにより、材料の微細な構造解析から、大型基板の検査まで幅広いニーズにお応えします。 ●従来のX線源ではコントラストのつかなかった軽素材に対し、低電圧で高コントラストな撮像が可能です。 ●電子顕微鏡検査の前段階、加速実験やサイクルテスト後の前段階の検査として有効です。 【撮像適合例】 ●CT撮像 　・ナノフォーカスX線CT 複合材料の構造観察（繊維の配向・粒子の分散）、多孔体の空孔観察など 　・直交型CT 電子部品の断面検査、樹脂成型品などの構造検査など 　・傾斜CT 基板実装部品の接合検査など ●透過撮像 電子部品の不良（ボイド・クラック）等 ●加熱装置 ハンダ内のボイドやLEDの封止材の膨らみ、車載用電子部品の熱変形観察など

LEDストロボスコープ『キャリーミニ　CMシリーズ』

『キャリーミニ　CMシリーズ』は手のひらサイズの軽量・小型LEDストロボスコープです。 ●白色LED＋特殊光学系であかるく発光。 ●重量は650g。従来比1/3の軽さ。 ●充電式乾電池でコードレス発光。３時間以上の連続使用可。 　※AC電源による連続使用にも対応