赤外線サーモグラフィカタログ(オプテックス・エフエー株式会社)

  • 測定器/分析器

Xi400シリーズは解像度が382×288pixelと高いため、距離を離しても細かく温度測定が可能なサーモグラフィです。
視野内で測定エリアを自由に設定でき、柔軟かつ多彩な測定が可能です。

  • PC操作による電動フォーカス機能  ソフトウェア(PIX Connect)上で、電動フォーカス調整が可能です。 遠隔でフォーカス調整が可能なため装置内に設置後も運用しやすくなっています。
  • 微小点測定が可能な挟角タイプとマイクロスコープタイプ  5種類(挟角・標準・広角・超広角・マイクロスコープ)のレンズタイプがあるので、設置距離やワークサイズに応じて選定いただけます。

【アプリケーション】

  • ホットメルトの周囲への飛散検査
  • コイルスプリングの温度管理
  • シート材の温度管理

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